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Übersetzungen für „SEM“ im Englisch » Deutsch-Wörterbuch (Springe zu Deutsch » Englisch)
scanning electron microscope (SEM) SUBST
Beispiele aus dem Internet (nicht von der PONS Redaktion geprüft)
Figure 2 Interaction volume
In a scanning electron microscope an electron beam is scanned over the surface of a sample ( scanning ).
The irradiating electrons interact primarily with the sample in the so called interaction volume ( figure 2 ).
chemie.uni-paderborn.deAbb 2 Anregungsbirne
Bei einem Rasterelektronenmikroskop wird ein Elektronenstrahl über die zu untersuchende Probenoberfläche geführt ( Rasterung ).
Dabei wechselwirken die einstrahlenden Elektronen mit der Probe hauptsächlich in der sogenannten Anregungsbirne ( Abb 2 ), dessen Ausmaße von Parametern wie der Beschleunigungsspannung, der Dichte und von der mittleren Ordnungszahl des Materials abhängig ist.
chemie.uni-paderborn.deschematic design
The XL 40 manufactured by Philips is a scanning electron microscope with an extra large sample chamber.
Data is captured using SE-, BSE- und EDX-detectors.
www.mv.uni-kl.deSchematischer Aufbau
Das XL 40 von Philips ist ein Rasterelektronenmikroskop mit extra großer Probenkammer.
Daten werden mittels SE-, BSE- und EDX-Detektoren erfassten.
www.mv.uni-kl.deIf we compare the statements about the Cotyledons, Perisperm and Embryo in descriptions of the Notocacti, they always contain the same wording.
For 15 years most first descriptions have included photos of the seed, which were made under the scanning electron microscope - often abbreviated to SEM ( REM in German ).
Thomas Engel ( 1988 ) in INTERNOTO has reported the problems of the appraisal of these photographs.
www.internoto.deWenn man die Angaben über Kotyledonen, Perisperm und Embryo bei den Beschreibungen der Notokakteen einmal vergleicht, so stehen dort immer die selben Formulierungen.
Seit 15 Jahren werden den meisten Erstbeschreibungen Fotos des Samens beigefügt, die unter dem Rasterelektronenmikroskop gemacht wurden - oft als REM-Aufnahmen abgekürzt.
Über die Problematik der Wertung dieser Aufnahmen hat Thomas Engel ( 1988 ) in INTERNOTO referiert.
www.internoto.deDetermination of moisture content in the drying oven in compliance with EN ISO 52180
Cell changes were examined under the scanning electron microscope, the water absorption coefficient was compared and mechanical properties such as acoustic velocity or acoustic resistance, tensile strength and bending strength were recorded.
A Memmert Universal oven among other things is used to determine the moisture content, in compliance with DIN EN ISO 52180.
www.atmosafe.netDarrprobe nach EN ISO 52180 im Trockenschrank
Zellveränderungen werden unter dem Rasterelektronenmikroskop untersucht, der Wasseraufnahmekoeffizient verglichen, mechanische Eigenschaften wie Schallgeschwindigkeit oder Schallwiderstand, Bruchschlagarbeit und Biegefestigkeit ermittelt.
Ein Memmert Universalschrank wird unter anderem für die Darrprobe zur Bestimmung des Feuchtegehaltes nach DIN EN ISO 52180 eingesetzt.
www.atmosafe.netOur special thanks go to Prof. Joaquín Coronas and Dr. Carlos Téllez from the University of Zaragoza for their support in writing this application report.
The scanning electron microscope clearly illustrates the homogeneity and morphology of the filler silica in the membrane with an 8 and 12 % weight proportion
The scanning electron microscope clearly illustrates the homogeneity and morphology of the filler silica in the membrane with an 8 and 12 % weight proportion
www.atmosafe.netUnser besonderer Dank gilt Herrn Joaquín Coronas von der Universität Zaragoza für seine Unterstützung beim Verfassen dieses Anwenderberichtes.
Rasterelektronenmikroskop zeigt beispielhaft Homogenität und Morphologie des Füllstoffes Silika in der Membran bei 8, bzw. 12 % anteiligem Gewicht
Rasterelektronenmikroskop zeigt beispielhaft Homogenität und Morphologie des Füllstoffes Silika in der Membran bei 8, bzw. 12 % anteiligem Gewicht
www.atmosafe.netAlso the investigation of very dark surfaces or transparent materials is very favourable by using SEM technique.
Since April 1999 the institute had a modern scanning electron microscope (FEI Electron Optics) at one's disposal.
www.filkfreiberg.deAuch bei der Untersuchung sehr dunkler Oberflächen oder transparenter Materialien ist sie vorteilhaft.
Seit April 1999 steht dem Institut ein modernes Rasterelektronenmikroskop (FEI Electron Optics) zur Verfügung.
www.filkfreiberg.deFor the time being the solution is not suited for biological applications.
While light microscope images are based on reflection, or transmission, or fluorescence, the scanning electron microscope offers – in addition to the more than two orders of magnitude higher resolution – a variety of more in-depth analysis possibilities.
These options primarily include the morphological characterization of the sample and the element analysis using X-ray spectroscopy ( EDX ).
www.zeiss.co.krDie jetzt präsentierte Lösung ist zunächst nicht für biologische Anwendungen einsetzbar.
Während lichtmikroskopische Aufnahmen auf Reflexion, Transmission oder Fluoreszenz basieren, bietet das Rasterelektronenmikroskop – neben der um mehr als zwei Größenordnungen höheren Ortsauflösung – eine Vielzahl weiter- führender Analysemöglichkeiten.
Dies sind insbesondere die morphologische Charakteri- sierung der Probe sowie die Elementanalyse mittels Röntgenspektroskopie ( EDX ).
www.zeiss.co.krPTQ provides further information on product quality.
The main physical properties are determined there and samples are examined metallographically or with a scanning electron microscope.
www.aurubis.comAussagen zur weiteren Produktqualität liefert die PTQ.
Dort werden wichtige physikalische Eigenschaften bestimmt und Muster metallografisch oder mit dem Rasterelektronenmikroskop untersucht.
www.aurubis.comThis is our servo-hydraulic test facility for the examination of components under permanent load.
The scanning electron microscope with EDX is not only being used for metallic materials.
Physik
fb05.h-bonn-rhein-sieg.deUnser servo-hydraulisches Prüffeld dient zur Untersuchung von Bauteilen auf Dauerbelastung.
Das Rasterelektronenmikroskop mit EDX wird nicht nur für metallische Werkstoffe verwendet.
Physik
fb05.h-bonn-rhein-sieg.deMeasurement setup for electric devices
There are several optical microscopes available to analyse the processed layers and structures, as well as a scanning electron microscope (JEOL) and an atomic force microscope (DME).
www.igm.uni-stuttgart.deMessplatz für elektrische Bauteile
Für die Analyse von prozessierten Schichten und Strukturen stehen neben Lichtmikroskopen auch ein Rasterelektronenmikroskop (JEOL) und ein Rasterkraftmikroskop (DME) zur Verfügung.
www.igm.uni-stuttgart.deMöchtest du ein Wort, eine Phrase oder eine Übersetzung hinzufügen?
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