Flugzeit-Sekundärionenmasse... metrie ( TOF-SIMS ) zur Analyse der molekularen Oberflächenzusammensetzungen
Flugzeit-Sekundärionenmasse... metrie (TOF-SIMS) zur Analyse der molekularen Oberflächenzusammensetzungen © Fraunhofer IFAM
Transmissionselektronenmikro- skopie (TEM) zur hochauflösenden Abbildung der Probenmorphologie
www.ifam.fraunhofer.deTime-of-flight secondary ion mass spectrometry ( TOF-SIMS ) for analysis of the molecular surface composition
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for analysis of the molecular surface composition © Fraunhofer IFAM
Transmission electron microscopy (TEM) for high-resolution imaging of specimen morphology
www.ifam.fraunhofer.deDas gilt auch für den pureUV.
Durch seine patentierte Reflektorgeo- metrie wird unerwünschte IR-Strahlung sorgfältig herausgefiltert.
Der pureUV sorgt für hohe Intensität, erlaubt das Bedrucken selbst tempera- turempfindlicher Substrate und besticht durch seine kompakte Bauform.
www.eltosch.deThis is also true of the pureUV.
Its patented reflector geometry effecti- vely filters out undesirable IR irradiation.
The pureUV unit achieves high intensity levels, enables printing on temperature-sensitive substrates and is conveniently compact in size.
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Flugzeit-Sekundärionenmasse... metrie (TOF-SIMS) zur Analyse der molekularen Oberflächenzusammensetzungen.
Flugzeit-Sekundärionenmasse... metrie (TOF-SIMS) zur Analyse der molekularen Oberflächenzusammensetzungen.
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Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for analysis of the molecular surface composition.
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